Advances in imaging and electron physics Vol. 172 Neutron and X-ray microscopy : part 1 /
| Hlavní autor: |
Cremer, Jay Theodore
(
Autor )
|
|---|---|
| Další autoři: |
Hawkes, Peter W
(
Editor )
|
| Typ dokumentu: | Kniha |
| Jazyk: |
angličtina |
| Vydavatel: |
Boston :
Elsevier,
2012.
|
| Edice: |
Advances in imaging and electron physics;
vol. 172 |
| Předmět: | |