Úprava elipsometru Gaertner L119 a jeho použití pro studium tenkých vrstev = The modification of Gaertner L119 ellipsometer and its use for thin-film structures study /

Hlavní autor:
Další autoři:
Talik, Adam ( Autor )
Hlubina, Petr ( Autor )
Typ dokumentu: Článek
Jazyk: čeština
ISSN: 0447-6441
Zdroj: Jemná mechanika a optika : věda - výzkum - technologie - realizace : technický oborový časopis: Roč. 52, č. 2 (2007), s. 40-42.
Předmět:
Externí odkaz: Získat plný text