Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis /
| Další autoři: |
Siegel, Benjamin M.
(
Editor )
|
|---|---|
| Typ dokumentu: | Kniha |
| Jazyk: |
angličtina |
| Vydavatel: |
New York :
Wiley,
1975.
|
| Předmět: | |
|
|