Výsledky vyhledávání - "four-point probe"

Obálka

The certification of 100 mm diameter silicon resistivity SRMs 2541 through 2547 using dual-configuration four-point probe measurements /

Autor Ehrstein, J. R.
Vydáno: 1997

Kniha

Obálka

The certification of 100 mm diameter silicon resistivity SRMs 2541 through 2547 using dual-configuration : four-point probe measurements, 1999 edition /

Autor Ehrstein, James R.
Vydáno: 1999

Kniha