Monte Carlo simulation study on secondary electron yield of SiO2

Autor:	Guo, P., Mao, S.F., Zou, Y.B., Yang, T.F., Miao, H., Ding, Z.J.
Zdroj:	In Results in Physics March 2024 58
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu