Extracting transverse electron mean free paths in graphene at low energy
Autor: | Neu, Peter S., Geelen, Daniël, Tromp, Rudolf M., van der Molen, Sense Jan |
---|---|
Zdroj: | In Ultramicroscopy November 2023 253 |
Databáze: | ScienceDirect |
Externí odkaz: |
Autor: | Neu, Peter S., Geelen, Daniël, Tromp, Rudolf M., van der Molen, Sense Jan |
---|---|
Zdroj: | In Ultramicroscopy November 2023 253 |
Databáze: | ScienceDirect |
Externí odkaz: |