Grain size measurement in optical microstructure using support vector regression

Autor:	K., Gajalakshmi, S., Palanivel, N.J., Nalini, S., Saravanan, K., Raghukandan
Zdroj:	In Optik June 2017 138:320-327
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect