Damage effects on low noise amplifiers with microwave pulses

Autor:	Zhang, Cunbo, Zhang, Jiande, Wang, Honggang, Du, Guangxing
Zdroj:	In Microelectronics Reliability May 2016 60:41-47
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect