Structural, morphology and electrical properties of layered copper selenide thin film

Autor:	Ying Chyi Liew J., Talib Zainal, Mahmood W., Yunus M., Zainal Zulkarnain, Halim Shaari, Moksin Mohd, Yusoff Wan, Pah Lim K.
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2009
Předmět:	cuse thin films electrical conductivity surface roughness film thickness grain size 71.20.nr 72.20.-i 73.21.ac 73.25.+i 73.50.-h Physics QC1-999
Zdroj:	Open Physics, Vol 7, Iss 2, Pp 379-384 (2009)
Druh dokumentu:	article
ISSN:	2391-5471
DOI:	10.2478/s11534-009-0057-1
Databáze:	Directory of Open Access Journals
Externí odkaz:	https://doaj.org/article/c00f3c8cbb1a4db88754a6680cef859d Zobrazit plný text záznamu View record in DOAJ