X-ray Photoemission Electron Microscopy for the Study of Semiconductor Materials

Autor:	Anders, Simone
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	1998
Předmět:	advanced light source als
Zdroj:	Anders, Simone. (1998). X-ray Photoemission Electron Microscopy for the Study of Semiconductor Materials. AIP Conference Proceedings, 449. Lawrence Berkeley National Laboratory: Lawrence Berkeley National Laboratory. Retrieved from: http://www.escholarship.org/uc/item/50k1c7nm
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______325::e53bbdbfb7ae6b8a2f984970775aa8db http://www.escholarship.org/uc/item/50k1c7nm Zobrazit plný text záznamu