Third Order Distortion Measurement Circuit for CMOS Transconductors

Autor:	Nieland, J., Klumperink, Eric A.M., van Tuijl, Adrianus Johannes Maria
Rok vydání:	1997
Předmět:	METIS-112830
Zdroj:	Unknown, 435-441 STARTPAGE=435;ENDPAGE=441;TITLE=Unknown
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=narcis______::c690cde83601078d96bffa5109b6fecf https://research.utwente.nl/en/publications/third-order-distortion-measurement-circuit-for-cmos-transconductors(3f944f36-a4bf-45eb-9b06-a58f24556248).html Zobrazit plný text záznamu