Analysis of the distribution of impurities in crystals by anomalous X-ray scattering

Autor: H. Jagodzinski, T. Berthold
Rok vydání: 1990
Předmět:
Zdroj: Zeitschrift für Kristallographie - Crystalline Materials. 193:85-100
ISSN: 2196-7105
2194-4946
DOI: 10.1524/zkri.1990.193.14.85
Popis: On montre que l'on peut determiner les teneurs en impuretes pour des concentrations aussi basses que 10 −6 par des mesures des contributions anormales des atomes d'impurete a la diffusion RX a condition que les atomes d'impurete soient localises en positions specifiques dans le cristal. On observe alors des changements dans la distribution des faibles intensites dus a la diffusion anormale. Ceci est associe aux sites specifiques et aux defauts structuraux. Demonstration experimentale dans le cas des materiaux deformes
Databáze: OpenAIRE