Analysis of the distribution of impurities in crystals by anomalous X-ray scattering
Autor: | H. Jagodzinski, T. Berthold |
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Rok vydání: | 1990 |
Předmět: | |
Zdroj: | Zeitschrift für Kristallographie - Crystalline Materials. 193:85-100 |
ISSN: | 2196-7105 2194-4946 |
DOI: | 10.1524/zkri.1990.193.14.85 |
Popis: | On montre que l'on peut determiner les teneurs en impuretes pour des concentrations aussi basses que 10 −6 par des mesures des contributions anormales des atomes d'impurete a la diffusion RX a condition que les atomes d'impurete soient localises en positions specifiques dans le cristal. On observe alors des changements dans la distribution des faibles intensites dus a la diffusion anormale. Ceci est associe aux sites specifiques et aux defauts structuraux. Demonstration experimentale dans le cas des materiaux deformes |
Databáze: | OpenAIRE |
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