Influence of Temperature on the EFT Immunity of Multistage Integrated Oscillators

Autor:	Qazi Mashaal Khan, Mohsen Koohestani, Richard Perdriau
Přispěvatelé:	ESEO - RF-EMC (RF-EMC), ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Institut National des Sciences Appliquées (INSA), Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Nantes Université - pôle Sciences et technologie, Nantes Université (Nantes Univ)-Nantes Université (Nantes Univ)
Rok vydání:	2023
Předmět:	Transient analysis [SPI]Engineering Sciences [physics] Electrostatic discharges Integrated circuit modeling Resistors Oscillators Voltage measurement Electrical and Electronic Engineering Power supplies Condensed Matter Physics Atomic and Molecular Physics and Optics
Zdroj:	IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, pp.1-11. ⟨10.1109/TEMC.2022.3225540⟩
ISSN:	1558-187X 0018-9375
Popis:	International audience
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::a769daaeac82fde602adc9b49e704546 https://doi.org/10.1109/temc.2022.3225540 Zobrazit plný text záznamu