SiGe/Si Epitaxy and Wafer Bonding Applied to X-ray Detectors

Autor:	Jung, Arik S.
Přispěvatelé:	Bona, Gian-Luca, Schröder, Thomas, von Känel, Hans
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2018
Předmět:	Electric engineering ddc:621.3
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::0ee693d4fd13f2035f4c67c23754ce7a https://hdl.handle.net/20.500.11850/275347 Zobrazit plný text záznamu