Machine Learning-Driven Automated Scanning Probe Microscopy for Ferroelectrics

Autor:	Yongtao Liu, Kyle P Kelley, Rama K Vasudevan, Hiroshi Funakubo, Shelby S Fields, Takanori Mimura, Susan Trolier-McKinstry, Jon F Ihlefeld, Maxim Ziatdinov, Sergei V Kalinin
Rok vydání:	2022
Předmět:	Instrumentation
Zdroj:	Microscopy and Microanalysis. 28:2924-2926
ISSN:	1435-8115 1431-9276
DOI:	10.1017/s1431927622010972
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f12a81d084e777e6ceaec5fd081406c3 https://doi.org/10.1017/s1431927622010972 Zobrazit plný text záznamu