Multiple Retest Systems for Screening High-Quality Chips

Autor:	Chung-Huang Yeh, Jwu E. Chen
Rok vydání:	2023
Předmět:	Electrical and Electronic Engineering
Zdroj:	Journal of Electronic Testing.
ISSN:	1573-0727 0923-8174
DOI:	10.1007/s10836-023-06051-0
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b4eb8058da34012081d3987e99d56c51 https://doi.org/10.1007/s10836-023-06051-0 Zobrazit plný text záznamu Full text from SpringerLink