Quantification via X‐ray fluorescence analysis of oxygen in the surface layer of a Si‐sphere used as a new mass standard

Autor:	Lin Tsao, Edyta Beyer, Sheng-Jui Chen, Yu-Hsin Wu, Michael Kolbe, R. Fliegauf, Jeng-Yu Chiu, Matthias Müller
Rok vydání:	2021
Předmět:	Materials science chemistry Analytical chemistry X-ray fluorescence chemistry.chemical_element Surface layer Oxygen Spectroscopy
Zdroj:	X-Ray Spectrometry. 51:122-128
ISSN:	1097-4539 0049-8246
DOI:	10.1002/xrs.3265
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ac6d337fbfb1d62bee45982dd90c82a6 https://doi.org/10.1002/xrs.3265 Zobrazit plný text záznamu Plný text