Numerical modeling of radiation-induced charge neutralization in MOS devices

Autor:	L. Sambuco Salomone, M. Garcia-Inza, S. Carbonetto, J. Lipovetzky, E. Redin, A. Faigón
Rok vydání:	2022
Předmět:	Radiation Instrumentation
Zdroj:	Radiation Measurements. 153:106745
ISSN:	1350-4487
DOI:	10.1016/j.radmeas.2022.106745
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::956a8ed2daed1f4f595f0db816daa5ef https://doi.org/10.1016/j.radmeas.2022.106745 Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect