Latest applications of ToF-SIMS characterization for next-generation electronic materials
| Autor: | Tanguy Terlier, Qing Ai, Siraj Sidhik, Aditya Mohite, Yan Yao, Ming Tang, Jun Lou |
|---|---|
| Rok vydání: | 2022 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Microscopy and Microanalysis. 28:990-991 |
| ISSN: | 1435-8115 1431-9276 |
| DOI: | 10.1017/s1431927622004299 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|