Circuit Engineering Modeling of Single Event Effects under Impact of Heavy-Charged Particles in SUB-100 NM CMOS ICs
| Autor: | A.I. Chumakov, A.V. Sogoyan, A.V. Yanenko, A.Y. Nikiforof, N.A. Shelepin, Jsc «Niime», Moscow, Russia, Jsc «ENGOs Spels», Moscow, Russia, Anna B. Boruzdina, Anatoly A. Smolin, A.V. Ulanova, V.A. Telets |
|---|---|
| Rok vydání: | 2017 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Proceedings of Universities. ELECTRONICS. 22:447-459 |
| ISSN: | 2587-9960 1561-5405 |
| DOI: | 10.24151/1561-5405-2017-22-5-447-459 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|