Autor:	Amy E. Turner, F. Javier García de Abajo, Cameron Johnson, Benjamin J. McMorran
Rok vydání:	2021
Předmět:	Free electron model Interferometry Optics Materials science business.industry Grating business Instrumentation
Zdroj:	Microscopy and Microanalysis. 27:1474-1477
ISSN:	1435-8115 1431-9276
DOI:	10.1017/s1431927621005444
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::70fc9375fc065a410d2765d56f4df9bb https://doi.org/10.1017/s1431927621005444 Zobrazit plný text záznamu