ESD Robustness Improvement for VDMOS Transistors to Harsh Applications
| Autor: | Akio Uenishi, Fumitoshi Yamamoto, T. Kuroi, Shigeto Maegawa, Kenichi Hatasako |
|---|---|
| Rok vydání: | 2008 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Extended Abstracts of the 2008 International Conference on Solid State Devices and Materials. |
| DOI: | 10.7567/ssdm.2008.p-5-12l |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|