Using atomic response time to explore the effect of strain rate on yielding behaviors of tensile Cu nanowire with the molecular dynamic method

Autor: Yuan-Ching Lin, Tung-Hsien Yang, Tzung-Ming Chen, Dar-Jen Pen
Rok vydání: 2022
Předmět:
Zdroj: The International Journal of Advanced Manufacturing Technology. 119:3395-3405
ISSN: 1433-3015
0268-3768
Databáze: OpenAIRE
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje