Spectral clustering algorithm for real‐time endpoint detection of silicon nitride plasma etching

Autor: Seonghyeon Lee, Hojun Choi, Jaehyeon Kim, Heeyeop Chae
Rok vydání: 2023
Předmět:
Zdroj: Plasma Processes and Polymers.
ISSN: 1612-8869
1612-8850
DOI: 10.1002/ppap.202200238
Databáze: OpenAIRE