Insight Into HCI Reliability on I/O Nitrided Devices
Autor: | C. Doyen, V. Yon, X. Garros, L. Basset, T. Mota Frutuoso, C. Dagon, C. Diouf, X. Federspiel, V. Millon, F. Monsieur, C. Pribat, D. Roy |
---|---|
Rok vydání: | 2023 |
Zdroj: | 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS). |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |