Epitaxial thin-film growth ofC60onVSe2studied with scanning tunneling microscopy and x-ray diffraction
| Autor: | Rainer Adelung, Werner Press, R. Schwedhelm, J.-P. Schlomka, Lutz Kipp, S. Woedtke, Metin Tolan, Michael Skibowski |
|---|---|
| Rok vydání: | 1999 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Physical Review B. 59:13394-13400 |
| ISSN: | 1095-3795 0163-1829 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|