The Analysis of Sensitive Materials Using EBSD: The Importance of Beam Conditions and Detector Sensitivity
Autor: | Angus Bewick, Dieter Neher, Patrick Trimby, Daniel Abou-Ras, Laura M. Otter, Pietro Caprioglio |
---|---|
Rok vydání: | 2019 |
Předmět: | |
Zdroj: | Microscopy and Microanalysis. 25:2394-2395 |
ISSN: | 1435-8115 1431-9276 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |