Effects of RTA Rising Time on Ferroelectric Characteristics of HfZrO2

Autor: Changhyeon Han, Seok Jin Kwon, Jiyong Yim, Jeonghan Kim, Sangwoo Kim, Soi Jeong, Eun Chan Park, Ji Won You, Rino Choi, Daewoong Kwon
Rok vydání: 2022
Předmět:
Zdroj: IEEE Transactions on Electron Devices. 69:3499-3502
ISSN: 1557-9646
0018-9383
DOI: 10.1109/ted.2022.3168237
Databáze: OpenAIRE