Detailed XRD characterization of 2G HTS wire

Autor: M O Rikel, V A Amelichev, A V Markelov, A A Molodyk, S V Samoilenkov
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2023
DOI: 10.13140/rg.2.2.31719.32163
Databáze: OpenAIRE