A Study on the Method for Enhancing Patent Examination Quality: Focusing on the Open Examination Platform
| Autor: | Ilgu Lee, Daesung Baek, Sanghee Shim, Sungpil Park |
|---|---|
| Rok vydání: | 2011 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | The Journal of Intellectual Property. 6:1-38 |
| ISSN: | 1975-5945 |
| DOI: | 10.34122/jip.2011.12.6.4.1 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|