An EBIC method for the quantitative determination of dopant concentration at striations in LEC GaAs
| Autor: | C Frigeri |
|---|---|
| Rok vydání: | 2021 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Microscopy of Semiconducting Materials, 1987 |
| DOI: | 10.1201/9781003069621-117 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|