Study of Interface Trapped Charges Effect on Performance of Junction Less Trial Material Cylindrical Surrounding-Gate MOSFETs
| Autor: | Fairouz Lagraf, Kamel Guergouri, Djamil Rechem |
|---|---|
| Rok vydání: | 2019 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Journal of New Technology and Materials. 9:58-64 |
| ISSN: | 2170-161X |
| DOI: | 10.12816/0056116 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|