Characterization of 3-port SAW diplexers using 2-port VNA measurements

Autor:	A.C. Bunea, D. Neculoiu, M.A. Dinescu
Rok vydání:	2022
Zdroj:	2022 International Semiconductor Conference (CAS).
DOI:	10.1109/cas56377.2022.9934482
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::02bba7bfb0b1398b817d936b75272bde https://doi.org/10.1109/cas56377.2022.9934482 Zobrazit plný text záznamu