Autor:	Rainer Scharf
Rok vydání:	2009
Zdroj:	Optik & Photonik. 4:13-16
ISSN:	1863-1460
DOI:	10.1002/opph.201190001
Popis:	Neues Feld der Nanophotonik 3-D-Oberflacheninspektion an bewegten Objekten — SPARC Lichtmikroskop macht atomare Fehlstellen sichtbar Ultrastark und ultraschnell
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::024e1ce5908bd081fea86885637ece12 https://doi.org/10.1002/opph.201190001 Zobrazit plný text záznamu Plný text