Discharge frequency and reagents choice effects on robustness of silicon nitride (Si3N4) thin layers deposited by PECVD (Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition)

Autor: Cazako, Catheline, Inal, Karim, Burr, Alain, Georgi, Frédéric, Cauro, Rodolphe
Přispěvatelé: Centre de Mise en Forme des Matériaux (CEMEF), MINES ParisTech - École nationale supérieure des mines de Paris, Université Paris sciences et lettres (PSL)-Université Paris sciences et lettres (PSL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2017
Předmět:
Zdroj: European Conference on Heat Treatment and Surface Engineering
European Conference on Heat Treatment and Surface Engineering, Jun 2017, Nice, France
Popis: International audience
Databáze: OpenAIRE