Autor:	丁万武, 田旭东, 陈建超, 安家志, 余海存, 魏振鹏, 杨成亮
Předmět:	X-ray diffraction INTERMETALLIC compounds ELECTRONIC probes SCANNING electron microscopy CRYSTAL grain boundaries
Zdroj:	Nonferrous Metals Engineering; Aug2024, Vol. 14 Issue 8, p56-66, 11p
Databáze:	Complementary Index
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu