SCANNING TUNNELING MICROSCOPE-BASED FABRICATION AND CHARACTERIZATION ON PASSIVATED SEMICONDUCTOR SURFACES.

Autor:	Dagata, J. A., Schneir, J.
Zdroj:	Proceedings of SPIE; 3/27/2017, Vol. 10308, p100-110, 11p
Databáze:	Complementary Index
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu