An Introduction to Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and Its Application to Materials Science. [elektronicky zdroj]

Autor:	Fearn, Sarah
Jazyk:	angličtina
Informace o vydání:	San Rafael : Morgan & Claypool Publishers, 2015.
Předmět:	Electronic books
Druh dokumentu:	Online; Non-fiction; Electronic document
Databáze:	Vybrané kolekce e-knih
Externí odkaz:	Kolekce e-knih KNAV (Registrovani uzivatele: plny text online 5 minut, dalsi pristup na vyzadani. Registered users: full text online 5 minutes, further access on request.)