Semiconductor devices in harsh conditions. [electronic resource]

Další autoři:	Weide-Zaage, Kirsten, editor Chrzanowska-Jeske, Malgorzata, editor Iniewski, Krzysztof, 1960-, editor
Jazyk:	angličtina
Informace o vydání:	Boca Raton, Florida : CRC Press, 2017.
Předmět:	Semiconductors -- Reliability Extreme environments Environmental testing Electronic books
Druh dokumentu:	Bibliographies; Online; Non-fiction; Electronic document
Databáze:	Vybrané kolekce e-knih
Externí odkaz:	Kolekce e-knih KNAV Registrovani uzivatele: plny text online 5 minut, dalsi pristup na vyzadani. Registered users: full text online 5 minutes, further access on request.