Charge Carrier Mobility in n-Cd[sub x]Hg[sub 1 – ][sub x]Te Crystals Subjected to Dynamic Ultrasonic Stressing.

Autor:	Vlasenko, A. I., Olikh, Ya. M., Savkina, R. K.
Zdroj:	Semiconductors. Jun2000, Vol. 34 Issue 6, p644. 6p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu