Low‐Defect‐Density Monolayer MoS2 Wafer by Oxygen‐Assisted Growth‐Repair Strategy.

Autor:	Zhang, Xiaomin1,2 (AUTHOR), Xu, Jiahan1,3 (AUTHOR), Zhi, Aomiao4 (AUTHOR), Wang, Jian1,2 (AUTHOR), Wang, Yue1,2 (AUTHOR), Zhu, Wenkai1,2 (AUTHOR), Han, Xingjie5 (AUTHOR), Tian, Xuezeng4 (AUTHOR) tianxuezeng@iphy.ac.cn, Bai, Xuedong4 (AUTHOR), Sun, Baoquan1,2 (AUTHOR), Wei, Zhongming1,2 (AUTHOR), Zhang, Jing1,2 (AUTHOR) jzhang@semi.ac.cn, Wang, Kaiyou1,2,6 (AUTHOR) kywang@semi.ac.cn
Zdroj:	Advanced Science. 11/13/2024, Vol. 11 Issue 42, p1-10. 10p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.