Dynamic Fault Tree Generation and Quantitative Analysis of System Reliability for Embedded Systems Based on SysML Models.

Autor:	Chu, Changyong1,2 (AUTHOR) kevin@hdu.edu.cn, Yang, Weikang3 (AUTHOR) 232010126@hdu.edu.cn, Chen, Yajun3 (AUTHOR) 212010046@hdu.edu.cn
Zdroj:	Sensors (14248220). Sep2024, Vol. 24 Issue 18, p6021. 14p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.