A novel method to design and evaluate artificial neural network for thin film thickness measurement traceable to the length standard.

Autor:	Lee, Joonyoung1 (AUTHOR), Jin, Jonghan1,2 (AUTHOR) jonghan@kriss.re.kr
Zdroj:	Scientific Reports. 2/9/2022, Vol. 12 Issue 1, p1-7. 7p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.