Microstructural Effect Limitations in the Analysis of SnAg, SnBi and SnIn Lead-free Solders by Wavelength Dispersion X-Ray Spectrometry.

Autor:	Tadeusz Gorewoda1 (AUTHOR) tadeusz.gorewoda@imn.gliwice.pl, Mzyk, Zofia1 (AUTHOR), Anyszkiewicz, Jacek1 (AUTHOR), Bilewska, Katarzyna1 (AUTHOR), Cybulski, Andrzej1 (AUTHOR), Gołębiewska-Kurzawska, Joanna1 (AUTHOR), Knapik, Magdalena1 (AUTHOR), Kostrzewa, Justyna1 (AUTHOR), Grzegorczyk, Magdalena1 (AUTHOR), Malara, Szymon1 (AUTHOR)
Zdroj:	Journal of Analytical Chemistry. Jan2020, Vol. 75 Issue 1, p56-62. 7p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.