Zobrazeno 1 - 10
of 33
pro vyhledávání: '"wafer defect detection"'
Publikováno v:
In Expert Systems With Applications 1 April 2025 267
Publikováno v:
CAAI Transactions on Intelligence Technology, Vol 8, Iss 3, Pp 1029-1042 (2023)
Abstract Accurately identifying defect patterns in wafer maps can help engineers find abnormal failure factors in production lines. During the wafer testing stage, deep learning methods are widely used in wafer defect detection due to their powerful
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/2742066ca7974f17bc0ddc0150880e7e
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 10, Pp 39969-39974 (2022)
Accurate detection and classification of wafer defects constitute an important component in semiconductor manufacturing. It provides interpretable information to find the possible root causes of defects and to take actions for quality management and
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/b7756b1241544f639b918a1852414a3c
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Jessnor Arif Mat Jizat, Anwar P.P. Abdul Majeed, Ahmad Fakhri Ab. Nasir, Zahari Taha, Edmund Yuen
Publikováno v:
ICT Express, Vol 7, Iss 4, Pp 535-539 (2021)
In this paper, an evaluation of machine learning classifiers to be applied in wafer defect detection is described. The objective is to establish the best machine learning classifier for Wafer Defect Detection application. k-Nearest Neighbours (k-NN),
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/567f65f56f124228831b6f31d2f5757e
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.