Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"void shape evolution"'
Publikováno v:
Crystals, Vol 13, Iss 6, p 863 (2023)
The control and prediction of morphological changes in annealed void microstructures is an essential and powerful tool for different semiconductor applications, for example, as part of the production of pressure sensors, resonators, or other silicon
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/30b7ddee19384f0383d9b35a8e865b7f
Publikováno v:
Mathematical and Computational Applications, Vol 26, Iss 2, p 43 (2021)
The prediction and control of the transformation of void structures with high-temperature processing is a critical area in many engineering applications. In this work, focused on the void shape evolution of silicon, a novel algebraic model for the ca
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/de057512407c426097053a562ae206f7
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Mathematical and Computational Applications
Volume 26
Issue 2
Volume 26
Issue 2
The prediction and control of the transformation of void structures with high-temperature processing is a critical area in many engineering applications. In this work, focused on the void shape evolution of silicon, a novel algebraic model for the ca
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=multidiscipl::b3aec2181375d8d23f2619486b05ca3a
Autor:
Viggo Tvergaard, Brian Nyvang Legarth
Publikováno v:
Tvergaard, V & Legarth, B N 2020, ' 3D study of plastic flow localization at a void-sheet ', International Journal of Mechanical Sciences, vol. 173, 105426 . https://doi.org/10.1016/j.ijmecsci.2020.105426
A single layer of voids in a ductile material is considered to study the effect of this material imperfection on the onset of shear band localization, and to study the failure evolution in the void-sheet mechanism. The layer is inclined relative to t
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::f765ae74332f276033baee342a555bd1
https://doi.org/10.1016/j.ijmecsci.2020.105426
https://doi.org/10.1016/j.ijmecsci.2020.105426
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.