Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"very large integration"'
Autor:
MIILIC, M.
Publikováno v:
Advances in Electrical and Computer Engineering, Vol 19, Iss 3, Pp 75-82 (2019)
The importance of aging effects analysis in VLSI circuits increases with nowadays fast scaling of integrated circuits manufacturing technologies. Delays along paths in a digital circuit are crucial parameters that define the circuit working frequen
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/3af9ff4510e9402590c6605198bd5662
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
M. Milic
Publikováno v:
Advances in Electrical and Computer Engineering, Vol 19, Iss 3, Pp 75-82 (2019)
The importance of aging effects analysis in VLSI circuits increases with nowadays fast scaling of integrated circuits manufacturing technologies. Delays along paths in a digital circuit are crucial parameters that define the circuit working frequency
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::d5c91e94069dd96d8b776e65dc08b5ff
https://doi.org/10.4316/aece.2019.03009
https://doi.org/10.4316/aece.2019.03009
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.