Zobrazeno 1 - 10
of 460
pro vyhledávání: '"very large integration"'
Autor:
MIILIC, M.
Publikováno v:
Advances in Electrical and Computer Engineering, Vol 19, Iss 3, Pp 75-82 (2019)
The importance of aging effects analysis in VLSI circuits increases with nowadays fast scaling of integrated circuits manufacturing technologies. Delays along paths in a digital circuit are crucial parameters that define the circuit working frequen
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/3af9ff4510e9402590c6605198bd5662
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
M. Milic
Publikováno v:
Advances in Electrical and Computer Engineering, Vol 19, Iss 3, Pp 75-82 (2019)
The importance of aging effects analysis in VLSI circuits increases with nowadays fast scaling of integrated circuits manufacturing technologies. Delays along paths in a digital circuit are crucial parameters that define the circuit working frequency
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::d5c91e94069dd96d8b776e65dc08b5ff
https://doi.org/10.4316/aece.2019.03009
https://doi.org/10.4316/aece.2019.03009
Autor:
Anger, Simon1 (AUTHOR) matthias.jirousek@dlr.de, Jirousek, Matthias1 (AUTHOR), Dill, Stephan1 (AUTHOR), Peichl, Markus1 (AUTHOR)
Publikováno v:
Remote Sensing. May2024, Vol. 16 Issue 10, p1809. 18p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Chemical Physics; 7/21/2009, Vol. 131 Issue 3, p034111, 7p, 1 Chart, 4 Graphs
Autor:
Peters, Michael A.1 mpeters@bnu.edu.cn
Publikováno v:
Educational Philosophy & Theory. Dec2023, Vol. 55 Issue 14, p1642-1646. 5p.
Autor:
Gugulothu, Bhaskar, Naik, B. Rajendra
Publikováno v:
Microsystem Technologies; Nov2024, Vol. 30 Issue 11, p1501-1514, 14p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.