Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"van Velzen, Leon"'
Novel event-based electron detector platforms provide an avenue to extend the temporal resolution of electron microscopy into the ultrafast domain. Here, we characterize the timing accuracy of a detector based on a TimePix3 architecture using femtose
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2307.16666
Publikováno v:
In Ultramicroscopy February 2024 256
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
van Velzen, Leon
Publikováno v:
GIDS voor Personeelsmanagement; nov2010, Vol. 89 Issue 11, p44-47, 4p
Autor:
van Velzen, Leon
Publikováno v:
GIDS voor Personeelsmanagement; dec2009, Vol. 88 Issue 12, p10-14, 5p
Autor:
van Velzen, Leon
Publikováno v:
GIDS voor Personeelsmanagement; okt2010, Vol. 89 Issue 10, p10-12, 3p