Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Practical Evaluation of a Cu Thick Film Multilayer System and Wire Bonding on Cu Conductors

Autor: Beyne, E., Delen, E., Govaerts, R., van Craen, M.

Publikováno v: Microelectronics International: An International Journal, 1985, Vol. 2, Issue 4, pp. 32-34.

Externí odkaz: http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/eb044200

Probleemjongeren', 'criminelen' en 'straatterroristen'. Marokkaans-Nederlandse jongeren als beleidsprobleem

Autor: van der Haar, M., Roggeband, C.M., van Craen, M.

Publikováno v: Meer kleur op straat. Diversiteit en veiligheid in België en Nederland, 109-139
STARTPAGE=109;ENDPAGE=139;TITLE=Meer kleur op straat. Diversiteit en veiligheid in België en Nederland

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=narcis______::f23b73a77cc22b457f622c5cb99bd184
https://research.vu.nl/en/publications/b717e536-00f6-4803-ab5b-9352ea816870

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

SIMS study of the penetration of metallic secondary impurities in screen-printed silicon solar cells.

Autor: Van Craen, M., Frisson, L., Adams, F. C.

Publikováno v: Surface & Interface Analysis: SIA; 1984, Vol. 6 Issue 6, p257-260, 4p